Urządzenie do pomiaru grubości powłok

© Oxford Instruments

Udostępnij:

 

AXXI 6 to nowe urządzenie firmy Oxford Instruments służące do pomiaru grubości powłok i analizy materiałów. Opiera się na fluorescencji rentgenowskiej z wysokorozdzielczym detektorem SDD. Urządzenie mierzy powłoki z użyciem skali nanometrycznej oraz określa skład elementów na poziomie śladowym.



Zakres zastosowań
Pomiar grubości powłok oparty na fluorescencji rentgenowskiej (XRF) to powszechnie przyjęta i przemysłowo sprawdzona technika analityczna oferująca łatwą w użyciu, szybką i nieniszczącą analizę. Nie wymaga ona przygotowywania próbki lub wymaga jej jedynie w niewielkim stopniu. MAXXI 6 jest w stanie analizować ciała stałe i ciecze w szerokim zakresie elementów od 13Al do 92U. W połączeniu z wysokorozdzielczym detektorem SDD może mierzyć powłoki z nanometryczną dokładnością oraz określać skład elementów na poziomie śladowym, co wykorzystywane jest np. w przemyśle galwanotechnicznym i produkcji płytek obwodów drukowanych. Osiem wymiennych kolimatorów całkowicie spełnia potrzeby związane z zakresem zastosowań, a detektor SDD gwarantuje optymalną wydajność na wszystkich poziomach zdolności rozdzielczej aż do 140 eV. Przy nieograniczonym wyborze elementów i struktur powierzchni do pomiaru grubości i analizy składu MAXXI 6 zawsze zapewnia wysoką jakość badania w sektorze wykończenia elementów metalowych, elektroniki, testów zgodności, stopów metali i energii alternatywnych.



Uproszczenie procedury analitycznej
Analiza grubości powłok przy wykorzystaniu MAXXI 6 wymaga trzech prostych kroków:
1. umieszczenie próbki w komorze,
2. wybranie punktu próby,
3. naciśnięcie przycisku start.

Intuicyjne oprogramowanie oparte jest na WindowsTM 7. Szereg cech kalibracyjnych, takich jak kalibracja empiryczna, model FP lub kalibracja ze wstępnym obciążeniem dla RoHS i metali szlachetnych, zdecydowanie ułatwia analizę. Także komponenty sprzętowe wpływają na łatwość obsługi urządzenia: standardowy PC lub notebook mogą być podłączone do MAXXI 6 przez USB bez dodatkowego sprzętu lub oprogramowania układowego. Wyjątkowo duża szczelinowa komora probiercza o wymiarach wewnętrznych 500 x 450 x 170 mm, jest odpowiednia dla różnych próbek o standardowej i niestandardowej wielkości. Programowalny etap pozwala na zautomatyzowany pomiar i maksymalizuje zakres ruchu półki i prędkość.

„Naszym celem był rozwój wysokiej jakości miernika grubości i analizatora powłok, przy zachowaniu łatwości jego użytkowania. MAXXI 6 oferuje połączenie cech, które nie było do tej pory dostępne na rynku” - mówi Olaf Neuhausen, dyrektor zarządzający Oxford Instruments Roentgenanalytik GmbH, centrum kompetencyjne Oxford Instruments ds. laboratoryjnej technologii XRF. MAXXI 6 jest produkowany w Niemczech i zatwierdzony przez PTB (Physikalisch Technische Bundesanstalt) w celu zagwarantowania najwyższego poziomu bezpieczeństwa związanego z promieniowaniem.

Więcej informacji: www.oxford-instruments.com/maxxi6

Udostępnij:

Drukuj



MM




TOP w kategorii






Chcesz otrzymać nasze czasopismo?
Zamów prenumeratę
Zobacz również