Celem seminarium jest zaprezentowanie możliwości jakie dają nowoczesne metody radiografii cyfrowej i ich wykorzystanie w badaniach nieniszczących. Seminarium będzie też doskonałą sposobnością do wymiany informacji oraz doświadczeń w zakresie wykorzystania najnowocześniejszych technologii wpływających na poprawę jakości wyrobów. Dodatkowo podczas seminarium zostanie poruszony temat skanowania odlewów z wykorzystaniem optycznych laserowych skanerów 3D.

Prezentowane rozwiązania produktowe:

• rentgenowski system inspekcyjny X Cube firmy GE wyposażony w lampę 320 kV,
• skaner przestrzenny HandyScan firmy Creaform przeznaczony do wykonywania szybkich pomiarów obiektów trójwymiarowych w celach inspekcyjnych oraz inżynierii odwrotnej.

Seminarium odbędzie się w trakcie XXI Międzynarodowych Targów Technologii dla Odlewnictwa METAL organizowanych w Kielcach w sali konferencyjnej GAMMA.

Program seminarium 20-21 wrzesień 2016:

10:00 - 10:15 - POWITANIE I PREZENTACJA ORGANIZATORA FIRMY ITA
10:15 - 10:45 - WYKORZYSTANIE KABINY RENTGENOWSKIEJ X-CUBE W BADANIU ODLEWÓW
10:45 - 11:15 - WYKORZYSTANIE SKANERÓW CREAFORM W BADANIU ODLEWÓW
11:15 - 11:30 - PRZERWA KAWOWA
11:30 - 12:00 - DEVELOPMENT FOR 2D INSPECTION AND 3D CT INSPECTION FOR FOUNDRY PRODUCTION
12:00 - 12:30 - WYKORZYSTANIE TOMOGRAFII RENTGENOWSKIEJ W BADANIACH ODLEWÓW
12:30 - 12:50 - PRAKTYCZNE WYKORZYSTANIE URZĄDZENIA V|TOME|X S 240 W BADANIU ODLEWÓW
12:50 - 13.00 - PODSUMOWANIE / ZAKOŃCZENIE SEMINARIUM CZĘŚCI TEORETYCZNEJ ZAPROSZENIE DO CZĘŚCI PRAKTYCZNEJ NA STOISKU FIRMY ITA
13:00 - 15:00 - ZAJĘCIA PRAKTYCZNE Z WYKORZYSTANIEM SYSTEMU X|CUBE NA STOISKU FIRMY ITA, PAWILON E, STOISKO NR 12

Więcej informacji na stronie: www.ita-polska.com.pl/seminaria

MM Magazyn Przemysłowy jest patronem wydarzenia.