Przestrzenny wynik kontroli metrologicznej
KeyenceNiezwykle pożądaną cechą w wielu gałęziach przemysłu jest możliwość uzyskiwania wizualnego, przestrzennego wyniku kontroli metrologicznej na końcu linii produkcyjnej. Pozwala ona wyeliminować konieczność kontroli ręcznej oraz uzyskać w czasie rzeczywistym informacje o dryfcie parametrów produkcyjnych. Niestety, w wielu przypadkach przeprowadzenie tego typu kontroli było dotąd niemożliwe ze względu na różnice szybkości linii produkcyjnej i szybkości pomiaru oraz zbyt skomplikowaną implementację. Nowe profilografy serii LJ-V eliminują oba te problemy. Co więcej, zapewniają dużą stabilność pomiaru niezależną od szybkości linii produkcyjnej dzięki opracowanej przez firmę Keyence elektronice sterującej, a w szczególności dzięki nowemu czujnikowi obrazu CMOS o dużej czułości i zastosowaniu szybkiego procesora GP64.
Keyence od wielu lat specjalizuje się w produkcji czujników obrazu CMOS. Najnowszy typ czujnika, HSE3-CMOS charakteryzuje się większą szybkością działania i 64-krotnie szerszym zakresem dynamicznym od czujników stosowanych w najlepszych dotąd systemach 2D. Dzięki bardzo dużej czułości zapewnia on stabilny pomiar w przypadku obiektów ciemnych i połyskliwych. Pełnię możliwości prezentuje przy współpracy z szybkim procesorem GP64 obsługującym tryb przetwarzania potokowego.
Profilografy LJ-V zapewniają 30-krotnie większą szybkość działania od najszybszych odpowiedników dostępnych dotąd na rynku. Rejestrują 12,8 miliona punktów na sekundę (64 tys. profili/s), zapewniając szybkość pomiarową 6,4 m/s z krokiem 0,1 mm.
Precyzja i stabilność detekcji również przewyższają standardowe profilografy dostępne obecnie na rynku. W urządzeniach serii LJ-V7000 zastosowano niebieski laser charakteryzujący się mniejszą średnicą plamki wynikającą z mniejszej długości fali oraz soczewki 2D Ernostar zapewniające maksymalne skupienie wiązki. Uzyskana dzięki temu wiązka o małej średnicy i dużej intensywności zapewnia stabilny i precyzyjny pomiar. Uzyskana dokładność pozycjonowania wynosi ±7,6 µm, a powtarzalność 0,4 µm. Liniowość jest na poziomie 0,1% pełnej skali. Zaletą niebieskiego lasera jest ponadto większa stabilność pomiaru w przypadku obiektów o wysokiej temperaturze, ponieważ dyfuzja powierzchniowa w mniejszym stopniu wpływa na wynik pomiaru niż w przypadku lasera czerwonego.
W nowych profilografach Keyence zastosowano podwójne źródło świata. Różnice natężenia światła odbierane przez detektor pozwalają wyeliminować problemy z odbiciami zakłócającymi pomiar. Funkcja ta, określana mianem podwójnej polaryzacji jest unikalna w tego typu przyrządach. Zwiększa precyzję pomiaru w przypadku obiektów metalowych o złożonym profilu i strukturze powierzchni.
Zaletą profilografów serii LJ-V jest uproszczona implementacja. Udostępniają one 74 łatwe do skonfigurowania funkcje pozwalające na wykonanie większości typowych pomiarów. Warto zaznaczyć, że na tym samym profilu może być wykonywanych równocześnie 16 różnych pomiarów. Kolejną innowacją wprowadzoną w serii LV-J jest generacja obrazu 3D na bazie zmierzonych profili 2D. Nie ma potrzeby stosowania specjalistycznego programatora. Funkcja automatycznego dostrajania automatycznie koryguje różnice położenia kolejnych przesuwających się na taśmie elementów. W trakcie pomiaru lub strojenia operator może obserwować na bieżąco wyniki na specjalnie opracowanym wyświetlaczu z ekranem dotykowym. Istnieje też możliwość podłączenia dowolnego zewnętrznego monitora.
Profilografy serii LJ-V cechuje stopień ochrony IP67. Zapewniają one kompatybilność z wymogami normy IEC 68-2-29 w zakresie odporności na uderzenia. Mogą dzięki temu mierzyć części różnych rozmiarów, blisko procesu produkcyjnego.
Zakres zastosowań serii LJ-V obejmuje przemysł elektroniczny, obróbkę metali oraz produkcję części plastikowych i elastomerów. Urządzenia te zapewniają szybki zwrot z inwestycji.
